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產(chǎn)品與服務(wù)

PAT 零部件平均測試

隨著(zhù)新能源和無(wú)人駕駛汽車(chē)快速發(fā)展，使得車(chē)規級芯片發(fā)揮著(zhù)越來(lái)越重要的作用。相對于消費類(lèi)電子芯片，車(chē)規芯片的質(zhì)量要求更加苛刻。

AEC-Q001規范中提出了參數零件平均測試（Parametric Part Average Testing, PPAT）方法。PAT 是用來(lái)檢測外緣（Outliers）半導體組件異常特性的統計方法，用以將異常組件從所有產(chǎn)品中剔除。

上揚軟件PAT（Part Average Testing）零部件平均測試，不僅包括常見(jiàn)的靜態(tài)SPAT（Static PAT）、動(dòng)態(tài)DPAT（Dynamic PAT，還包括先進(jìn)的區域聚集性PAT（Geographic PAT）剔除功能，使得PAT應用更加多樣、科學(xué)。


PAT 零部件平均測試主要模塊包括

  • GPAT

    區域聚集性PAT是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，可能會(huì )被移除。其核心思想是通過(guò)良品坐標周?chē)牟涣计窋盗?，或者通過(guò)不良品...

    GPAT

    區域聚集性PAT是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，可能會(huì )被移除。其核心思想是通過(guò)良品坐標周?chē)牟涣计窋盗?，或者通過(guò)不良品的聚集性找出有風(fēng)險的芯片。分別對應正向、反向兩種搜索剔除算法。

    GPAT.png

  • DPAT

    動(dòng)態(tài)PAT是根據當前Wafer測試參數的測試值計算當前WaferPAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數得出上下PAT管控線(xiàn)，最后根據每個(gè)die的實(shí)測...

    DPAT

    動(dòng)態(tài)PAT是根據當前Wafer測試參數的測試值計算當前Wafer PAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數得出上下PAT管控線(xiàn)，最后根據每個(gè)die的實(shí)測值與管控線(xiàn)得出die的Pass/Fail。

    動(dòng)態(tài)PAT.png

  • SPAT

    靜態(tài)PAT根據測試歷史數據計算產(chǎn)品PAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數計算出上下PAT管控線(xiàn)，最后根據每個(gè)die的實(shí)測值與管控線(xiàn)得出die的Pass/Fail。

    SPAT

    靜態(tài)PAT根據測試歷史數據計算產(chǎn)品PAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數計算出上下PAT管控線(xiàn)，最后根據每個(gè)die的實(shí)測值與管控線(xiàn)得出die的Pass/Fail。

    SPAT.png

  • 軟件架構

    FA PAT支持多種測試文件格式，采用多線(xiàn)程技術(shù)，自動(dòng)監聽(tīng)測試文件，輸出PAT結果文件，也可直接將結果數據存儲在數據庫或推送給其它系統。

  • 硬件架構

    FA PAT與機臺軟件運行在同一局域網(wǎng)內，可直接訪(fǎng)問(wèn)文件服務(wù)器，自動(dòng)對機臺軟件產(chǎn)生的測試文件進(jìn)行PAT計算，從而產(chǎn)生結果文件，存儲在文件服務(wù)器上。